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拥有专利技术的广角几何（WAG）,400W X光管，60 kV发生器，8个二次靶，8款滤光片，高分辨率硅漂移探测器完全满足轻元素检测的要求。X-7600SDD LE的问世使得元素周期表中所有元素的检测都能得到最佳结果。
X-7600SDD LE 在带有二次靶技术的能量色散型X射线荧光分析仪领域中，引进专利技术，重新定义了“最先进”的概念。 它为分析调查和开发应用提供了高性能的解决方案，同时，为商业实验室分析提供了一种低成本、高效益的选择。
以高精度、sub-ppm检测精度为特色，在环保、地质和贵金属检测领域中，不管是轻元素还是重元素分析，X-7600SDD LE与其他分析仪器相比都具有更加卓越的检测性能。这是研究与开发领域中最理想的系统。
X-7600SDD LE 提高了轻元素检测的精度，例如：F、Ne、Na

X-7600SDD LE，使用先进的SDD探测器，具有低电子噪音和高计数率的特点，与 Si-Li 探测器（液氮冷却）相比具有更高的分辨率，能更快的得到检测结果。
8个二次靶为快速精确的定量分析提供了最大的灵敏度，即使是是在一些复杂的基质中，例如：合金、塑料和地质样品。可定制的靶为了达到ppb级的检测极限。
X-7600 LE 能检测液体、固体、浆状、粉末状，片状样品，样品室能容纳不同形状和尺寸的样品。

F(9) - U(92) ——使用极薄的高分子聚合物探测窗
ppb - 100%
Rh – 阳极标准 (mo, W, ag, cr 可选).
60kV, 400W. 10-5000µa (in 1µa increments).
直接激发或二次靶激发
室温条件下精确到0.1%
高分辨率硅漂移探测器（SDD），极薄的高分子聚合物探测窗，热电冷却，避免使用液氮冷却
能在1.6us的峰优化操作时间内达到123ev的最佳分辨率，出色的结果可以通过大范围的输入计数率
传送，在更短的峰操作时间内，高计数率能被处理。
10 个位置 (18 个位置可选).
空气/真空/ 氦气.
8款软件可选.
8款软件可选: Zr, Si, ti, fe, Ge, mo, Sn, Gd.
 115 Vac /60 Hz 或 230 Vac /50 Hz.
多信道分析
专利广角几何（WAG）
未包装 85 x 85 x 105, 含包装 145 x 95 x 135.
150kg (净重), 200kg (总重).
直径28cm, H=5cm.
集成计算机
nEXt， 运行在Windows XP下的数据采集及分析软件包外加初级基本参数算法。
样品激发，探测，样品操控，数据采集及处理的自动控制。
逃逸峰及背底的自动去除，自动重叠峰解析，图解式统计报告。
考虑共存元素效应的多元素回归法（六种模式）。总计数，净计数拟合及数字滤波器法。
用户可自定的数据报表及打印形式
18样品的旋转式自动给样系统，样品旋转机制，专业的基本参数算法。