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美国泛美38DLPLUS超声测厚仪 1
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美国泛美38DLPLUS超声测厚仪

型号:38DLPLUS
品牌:美国泛美
原产地:-
类别:电子、电力 / 仪器、仪表 / 分析仪器
标签︰38DL PLUS , 38DL PLUS , 38DL PLUS
单价: -
最少订量:1 台
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深圳市卓越仪器仪表有限公司

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即时通讯:点击这里给我发消息最后上线︰2013/05/26

产品描述

 

 

美国泛美超声波测厚仪软件选项

38DLP-OXIDE (U8147014):使用编码激活的内部氧化层测量软件。 
38DLP-HR (U8147015):使用编码激活的高分辨率测量软件。 
38DLP-MM (U8147016):使用编码激活的多层测量软件。 
38DLP-HP (U8147017):使用编码激活的高穿透(低频)测量软件。

38DL PLUS 超声波测厚仪选购附件

销售与技术 联系电话:13662645400  王军朋先生  QQ:2455024880

38DLP/EW (U8778348):3年保修。 
1/2XA/E110 (U8767104):用于E110-SB EMAT探头的滤波器适配器。 
38-9F6 (U8840167):RS-232线缆 
38-C-USB-IP67 (U8800998):USB线缆,用于符合IP67标准的密封操作。 
38DLP/RFS (U8780288):脚踏开关,厂内安装。 
HPV/C (U8780124):数字式卡尺线缆,用于在测量声速时进行厚度输入。 
38DLP-V-CC (U8840172): 数字式卡尺线缆。 
38DLP/BCW/NC (U8780289):棒材编码读取器。 
EPLTC-C-VGA-6 (U8840035):VGA输出线缆。 
MICROSD-ADP-2GB (U8779307):2 GB外置MicroSD存储卡

美国泛美38DL PLUS超声测厚仪技术规格



38DL PLUS超声测厚仪测量; 奥林巴斯38DL PLUS超声测厚仪技术参数:

 

双晶探头测量模式 从激励脉冲后的精确延时到第一个回波之间的时间间隔。
穿透涂层测量模式 利用单个底面回波(使用D7906-SM和D7908探头),测量金属的实际厚度和涂层厚度。
穿透漆层回波到回波测量模式 在两个连续底面回波之间的时间间隔,不计漆层或涂层的厚度。
单晶探头测量模式 模式1:激励脉冲与第一个底面回波之间的时间间隔。 
模式2:延迟线回波与第一个底面回波之间的时间间隔(使用延迟线式或水浸式探头)。 
模式3:在激励脉冲之后,位于第一个表面回波后的相邻底面回波之间的时间间隔(使用延迟线式或水浸式探头)。 
氧化层模式:可选。 
多层模式:可选。
厚度范围 0.080毫米~635.00毫米,视材料、探头表面条件、温度和所选配置而定。
材料声速范围 0.508 mm/μs~13.998 mm/μs
分辨率(可选择) 低分辨率:0.1毫米 
标准分辨率:0.01毫米 
高分辨率(可选项):0.001毫米
探头频率范围 标准:2.0 MHz~30 MHz(-3 dB) 
高穿透(可选项):0.50 MHz~30 MHz(-3 dB)

 

38DL PLUS超声测厚仪一般规格

 

工作温度范围 -10°C~50°C
键区 密封、以色彩区分功能的键盘,带有触感及声音反馈。
机壳 防撞击、防水、装有密封垫的机壳;机壳上的接口密封。设计符合IP67标准。
外型尺寸(宽 x 高 x 厚) 总体尺寸:125毫米x211毫米x46毫米
重量 0.814公斤
电源 AC/DC适配器,24 V;锂离子电池,23.760 Wh;或4节AA辅助电池。
锂离子电池供电时间 工作时间:最少12.6小时,一般14小时,最多14.7小时。快速充电:2小时到3小时。
标准 设计符合EN15317标准。

 

38DL PLUS超声测厚仪显示

 

彩色透反VGA显示 液晶显示,显示屏尺寸:56.16毫米 X 74.88毫米
检波 全波、RF波、正半波、负半波
输入/输出
USB 1.0从接口。
RS-232 有。
存储卡 最大容量:2 GB外置MicroSD存储卡。
视频输出 VGA输出标准。
内置数据记录器
数据记录器 38DL PLUS通过标准RS-232串口或USB端口识别、存储、回放、清除、传输厚度读数、波形图像和仪器配置信息。
容量 475000个厚度测量读数,或20000个带厚度值的波形。
文件名称、ID编码及注释 32位字符的文件名,20位字符的字母数字位码,每个位有四个注释。
文件结构 9个标准的或自定义的用于特定应用的文件结构。
报告 机载报告总结了数据统计、带有位置信息的最小值/最大值、最小值回顾、文件比较及报警报告。

 

 


付款方式︰款到发货

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美国泛美38DLPLUS超声测厚仪 1
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