产品描述
简单介绍
表面的弯曲、倾斜、粗糙程度与波纹度相互影响，对于需要同时测量尺寸、形状与表 面粗糙度的场合，便携式表面粗糙度轮廓测量仪FTS Intra提供了一次性测量的解决方法。 通过测针在测量表面上的一次测量，来评估这些元素。
表面粗糙度轮廓测量仪 的详细介绍
表面粗糙度轮廓测量仪
表面的弯曲、倾斜、粗糙程度与波纹度相互影响，对于需要同时测量尺寸、形状与表 面粗糙度的场合，便携式表面粗糙度轮廓测量仪FTS Intra提供了一次性测量的解决方法。 通过测针在测量表面上的一次测量，来评估这些元素。
品质保证 承续了泰勒霍普森产品家族里的优秀品质，
便携式表面粗糙度轮廓测量仪 FTS Intra 仿佛一位 优秀的表面测量工程师，在任何你需要的场合， 给您提供最好的支持。
简单便携
FTS Intra 既可以通过 PDA 控制处理器携带到 任何工作场合去工作，控制分析单元对驱动单元可 连线控制，也可红外遥控；也可以通过与电脑的对 接，测量的数据直接传输至计算机，由 Ultra 软件 对仪器进行控制及对测量数据的分析。作为标准计 量室内的检测设备。
我们可以非常容易地把它从计量室带到工作地 点，即使是临时的操作员也可以非常简单地进行操 作，并得到精确的测量结果。当然，由于完美的设 计，简而易行的操作，您几乎不用妨碍到生产的进 度，就可以非常完美地完成这些您所需要的表面形 状与粗糙度的检测。
评定参数
(1) 粗糙度参数： Ra、Rq、Rp、Rv、Rt、Rsk、Rku、Rz、Rz(JIS)、Rpm、R3y、R3z、RS、RSm、Rdela、 Rlamq、RDelq、Rvo、RPc、RHSC、Rmr、Rdc
(2) 波纹度参数： Wa、Wq、Wp、Wv、Wt、Wsk、Wku、Wz、WLamq、WDelq、WDela、WS、WSrm、 Ln、Wc、Wlo、WVo、WPc、WHSC、Wmr、Wdc
(3) 未滤波参数： Pa、Pq、Pv、Pt、Psk、Pp、Pku、Pz(JIS)、PLamq、PDelq、PS、PSm、Pz、Pdela、 Ln、PLo、Pc、PVo、PPc、PHSC、Pmr、Pdc
(4) Rk 参数： Rk、Mrl、Mr2、Rpk、Rvk、A1、A2
(5) 轮廓功能： 半径和角度 Slope(指被测直线与水平测量基准的夹角)
选择合适的产品
简单的粗糙度的测量（如 Ra 等），可以通过泰勒霍普森家族产品系 列
的Surtronic 系列来检测。如果您需要更先进的分析，更高的测量及分 析水平与操作的灵活性，FTS Intra 是完美且经济的选择。
如果您需要更高级别的产品，请参考我公司表面粗糙度轮廓测量仪 系列之 FTSS 与 PGI 产品。
产品图片
图 1
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