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自动光反射膜厚测试仪 1
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自动光反射膜厚测试仪

型号：NanoSpec II
品牌：NANOMETRICS
原产地：美国
类别：电子、电力 / 仪器、仪表 / 电子测量仪器
标签︰可见光 , 膜厚测试仪 , 光斑量程
单价： -
最少订量：1 件
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德仪国际贸易（上海）有限公司

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即时通讯:最后上线︰2015/01/13

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产品描述


自动wafer对位，自动对焦
光斑：紫外到可见光：14um，可见光40um
量程：
- 30nm-120um
- 可见光20nm-30um
- UV-可见光 3nm-10um


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自动光反射膜厚测试仪 1
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