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RoHS指令限制在电子电气设备中使用有毒物质。新一代的RoHS Vision运用高分辨率的探测器，软件集成相机以及具有可变光点尺寸的强大的X射线管来调节大小不一致的样品以及测量极低能级的限制物质。快速定量分析有助于生产商严格遵守新的规则。对不同基质、不同厚度、不同大小的样品自动识别基质成分并选择最佳采集参数。 

1)简单、快速进行 RoHS 标准中有害物质的认定；

2)瞬间得到指定元素的精确分析结果；

3)集成照相机和微 X 射线光点能充分识别目标区域；

4)拥有自动基质系统，即便不是专业的技术人员，也可以轻松操控这台仪器；

5)直观用户友好的专有软件；

6)坚稳紧凑的设计。

7)测量范围从F(9)-Fm (100)，元素含量分析范围从sub ppm~100%；

8)可达到123eV的分辨率；

9)轻元素探测器可选；

10)高计数率结合高度创新的数字技术 

RoHS/WEEE 指令检测，筛查受管制元素（Pb,Hg,Cd,Cr,Br）。包括：石化、聚合物、冶金　　环境、矿物质、取证以及自定义应用程序等。 

	X-RoHS+SDD用于RoHS环境	X-RoHS+SDD用于全部分析环境
测量能力
测量范围	Pb, Hg, Cd, Cr, Br	F(9)-Fm (100)
元素含量分析范围	Sub ppm - 100%
X光管
X光源	Mo–阳级标准
X-射线电压	50kV, 50W
激发模式	直接使用过滤器
光斑尺寸	微点—0.1mm，宏点0.8mm（根据样品）
稳定性	室温条件下精确到0.1%
X光探测器
探测器	硅漂移探测器/超级SDD，热电冷却
分辨率	129 eV ± 5eV (使用超级SDD，可达到123 eV ± 5eV)
特性
工作条件	空气/氦气
滤光片	6款可选的软件
电源	115 Vac/60 Hz 或230 Vac/50 Hz
脉冲加工	多信道分析
尺寸（L×W×H，cm）	55×55×32(不含包装)，80×80×65（含包装）
重量	50Kg（净重），90Kg(总重)
样品室尺寸	22 x 22cm, H=5cm
电脑	集成 pc
软件
操作软件	nEXt，运行在Windows XP下的数据采集及分析软件包外加初级基本参数算法
控制	样品激发，探测，样品操控，数据采集及处理的自动控制
光谱处理	逃逸峰及背底的自动去除，自动重叠峰解析，图解式统计报告
定量分析算法	考虑共存元素效应的多元素回归法（六种模式）。总计数，净计数拟合及数字滤波器法。
报告	用户可自定的数据报表及打印形式