产品描述
功能用途:镀层厚度分析、 物质元素含量分析 以下报价,以卖方最后确认为准。 技术指标型号: TX-200 元素分析范围: 铝(Al)-铀(U)可测镀层数: 最多可达5层镀层种类: 单金属镀层、合金镀层、无机薄膜镀层识别精度: 0.01um 厚度相对误差: 单层5%,多层5~10% 厚度测试范围: 轻金属(如:Ti、Cr等)0.01~50um 中金属(如:Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等)0.01~30um 重金属(如:Pt、Au、Pb等)0.005~15um 多道分析器: 2048道外型尺寸: 650mm×550mm×350mm 测量仓: 220mm×200mm×150mm 重量: 60Kg 测试时间: 60~200秒 标准配置配置 数量 单位仪器硬件部分主要配置 1 套 1. Si-PIN半导体探测器(采用美国原装进口) 1 套 2. 低功率高效X光管(采用英国原装) 1 个 3. 高压电源 1 个 4. 2048道数字多道分析器(采用美国原装进口) 1 套 5. 高精密CCD 1 个 6. 滤光片组 5 组 7. 准直器:直径为0.2 , 0.5 , 1 , 2 , 6 , 8mm的准直器各一个 6 个仪器外围配置 计算机:内存1 GB/硬盘150G/光驱24 X DVD/显示器17’LCD Monitor 1 台 2. 彩色喷墨打印机 1 台 3. 校正片 1 片软件配置 镀层厚度分析软件 1 套元素分析软件 1 套
产品图片
图 1
免责声明:以上信息由企业自行提供,内容的真实性和合法性由发布企业负责。「自助贸易」对此不承担任何保证责任。
举报投诉:如发现违法和不良资讯,请
点此处举报。