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Bowman 台式 膜厚测试仪的工作原理是，X 射线管产生初级射线照射在受检物质时，会激发物质放射X－射线萤光辐射，特定的元素有特定的辐射信号，接收器便会记录这些能量光谱。不需要先对样品进行处理便能测量，样品可直接放入测量室进行测量。

台式 膜厚测试仪是一款应用广泛的能量色散型X射线光谱仪.适合无损测量薄镀层厚度及材料分析,同时还能全自动测量大规模生产的零部件及印刷线路板.其比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量.为了使每次测量都能在最优的条件下进行,仪器配备了可电动调整的多个准值器及基本滤片.无论是镀层系统还是固体和液体样品,都能在没有标准片的情况下进行分析和测量.并且有着良好的长期稳定性,不用经常佼准仪器,可节省时间.

台式 膜厚测试仪典型的应用领域有:

1.测量大规模生产的零部件
2.测量微小区域上的薄镀层
3.测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
4.全自动测量,如测量印刷线路板.

台式 膜厚测试仪可测量厚度范围：
原子序12-92，0.1-0.8μm≤≤
26-40，0.05-35μm
43-52，0.1-100μm
72-82，0.05-5μm
X-射线管：油冷,超微细对焦
高压：0-50KV(程控)
电脑系统：IBM相容,17”显示器

美国台式 膜厚测试仪样品台选择：
采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用，分别为：
一：手动样品台
1 标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
2 扩展型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
3 可调高度型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。

二：自动样品台
1  程控样品台：XYZ轴自动控制。
2  超宽程控样品台：XYZ轴自动控制。

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