| 型号： | XTDP |
|---|---|
| 品牌： | 西博 |
| 原产地： | 中国 |
| 类别： | 电子、电力 / 仪器、仪表 / 光学透镜和仪器 |
| 标签︰ | 工业摄影测量 , 工业近景摄影测量 , 三维摄影测量 |
| 单价： |
¥250000
/ 件
|
| 最少订量： | 1 件 |
| 最后上线︰2019/06/11 |
XTDP三维光学摄影测量系统，使用普通单反相机（非量测相机），通过多幅二维照片，基于工业近景摄影测量原理，重建工件表面关键点三维坐标。用于对中型、大型（几米到几十米）物体的关键点进行三维测量。与传统三座标测量仪相比，没有机械行程限制，不受被测物体的大小、体积、外形的限制，能够有效减少累积误差，提高整体三维数据的测量精度。可以代替传统的激光跟踪仪、关节臂、经纬仪等，而且没有繁琐的移站问题，方便大型工件测量。
系统主要由高性能单反相机、编码标志点、非编码标志点、标尺、计算机及检测分析软件等组成。
技术指标
|
指标名称 |
技术指标 |
|
核心技术 |
工业近景摄影测量 |
|
※测量结果 |
三维坐标、三维位移 |
|
测量幅面 |
支持几十厘米到几十米的测量幅面 |
|
测量相机 |
支持多种单反、工业相机图像计算 |
|
※相机数目 |
支持单个相机或多个相机图像同时计算，提高大型工件的测量效率 |
|
相机标定 |
软件自标定，支持多种相机镜头畸变模型 |
|
测量精度 |
最高±0.015mm/m |
|
※标志点类型 |
支持10、12、15位编码点，支持黑底白点、白底黑点，更多类型可定制 |
|
※静态变形分析 |
通过多次测量不同变形状态下的观测标志点三维坐标，可以进行关键点三维变形偏差计算和色谱图分析；位移测量结果在三维视图中以射线和色谱形式绘制，真实表达三维点的变形与运动 |
|
※三维数模对比 |
可以对被测工件与CAD数模进行三维几何形状比对，快速方便地进行大型工件的产品外形质量的检测支持stl，iges，step等多种数模文件格式，对比结果三维彩色显示 |
|
※厚度补偿功能 |
具备编码点及非编码点厚度自动补偿功能 |
|
※坐标转换功能 |
321转换、参考点拟合、全局点转换、矩阵转换等多种坐标转换功能 |
|
※元素创建功能 |
可以创建三维点、线、面、圆、槽孔、矩形孔、球、圆柱、圆锥等多种三维元素 |
|
※分析创建功能 |
可以创建点点距离、点线距离、点面距离、线线夹角、线面夹角、面面夹角等多种分析 |
|
※多核加速 |
多核CPU并行运算，提高系统解算速度 |
|
系统兼容性 |
兼容32位、64位系统 |
|
系统扩展接口 |
可配合XTOM型三维光学面扫描系统使用，提高大型工件的拼接精度 |
系统特色
