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三维光学摄影测量系统

型号:XTDP
品牌:西博
原产地:中国
类别:电子、电力 / 仪器、仪表 / 光学透镜和仪器
标签︰工业摄影测量 , 工业近景摄影测量 , 三维摄影测量
单价: ¥250000 / 件
最少订量:1 件
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苏州西博三维科技有限公司

免费会员江苏省苏州市
最后上线︰2019/06/11

产品描述

XTDP三维光学摄影测量系统,使用普通单反相机(非量测相机),通过多幅二维照片,基于工业近景摄影测量原理,重建工件表面关键点三维坐标。用于对中型、大型(几米到几十米)物体的关键点进行三维测量。与传统三座标测量仪相比,没有机械行程限制,不受被测物体的大小、体积、外形的限制,能够有效减少累积误差,提高整体三维数据的测量精度。可以代替传统的激光跟踪仪、关节臂、经纬仪等,而且没有繁琐的移站问题,方便大型工件测量。

系统主要由高性能单反相机、编码标志点、非编码标志点、标尺、计算机及检测分析软件等组成。

技术指标

指标名称

技术指标

核心技术

工业近景摄影测量

测量结果

三维坐标、三维位移

测量幅面

支持几十厘米到几十米的测量幅面

测量相机

支持多种单反、工业相机图像计算

相机数目

支持单个相机或多个相机图像同时计算,提高大型工件的测量效率

相机标定

软件自标定,支持多种相机镜头畸变模型

测量精度

最高±0.015mm/m

标志点类型

支持10、12、15位编码点,支持黑底白点、白底黑点,更多类型可定制

静态变形分析

通过多次测量不同变形状态下的观测标志点三维坐标,可以进行关键点三维变形偏差计算和色谱图分析;位移测量结果在三维视图中以射线和色谱形式绘制,真实表达三维点的变形与运动

三维数模对比

可以对被测工件与CAD数模进行三维几何形状比对,快速方便地进行大型工件的产品外形质量的检测支持stl,iges,step等多种数模文件格式,对比结果三维彩色显示

厚度补偿功能

具备编码点及非编码点厚度自动补偿功能

坐标转换功能

321转换、参考点拟合、全局点转换、矩阵转换等多种坐标转换功能

元素创建功能

可以创建三维点、线、面、圆、槽孔、矩形孔、球、圆柱、圆锥等多种三维元素

分析创建功能

可以创建点点距离、点线距离、点面距离、线线夹角、线面夹角、面面夹角等多种分析

多核加速

多核CPU并行运算,提高系统解算速度

系统兼容性

兼容32位、64位系统

系统扩展接口

可配合XTOM型三维光学面扫描系统使用,提高大型工件的拼接精度

 系统特色

  • 国内首个自主研发的工业近景摄影测量系统
  • 高精度的相机标定算法,适用于多种数码相机
  • 自主知识产权的核心算法,达到国外先进水平
  • 测量范围大:可测量0.3m~30m范围的物体
  • 测量精度高:最高精度可达±0.015mm/m
  • 测量速度快:拍照方便快速,计算速度快,测量结果三维可视化
  • 具备CAD数模对比模块,可用于质量检测
  • 具备静态变形测量模块,可测量工件变形数据
  • 操作方便:设备不需要事先校正,使用方便,对操作人员无特殊要求
  • 适应性强:不受环境及测量范围限制,可在车间或工业现场测量
  • 便携式设计:设备轻便,单人可携带外出开展测量工作

产品图片

三维光学摄影测量系统 1
图 1
三维光学摄影测量系统 2
图 2
三维光学摄影测量系统 3
图 3
三维光学摄影测量系统 4
图 4
三维光学摄影测量系统 5
图 5

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86-0512-67159319
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