| 型号： | NKT-T180 |
|---|---|
| 品牌： | 海鑫瑞 |
| 原产地： | 中国 |
| 类别： | 工业设备 / 化工设备 |
| 标签︰ | 静态颗粒图像仪 , 图像仪 , 海鑫瑞图像仪 |
| 单价： |
¥38000
/ 件
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| 最少订量： | 1 件 |
| 最后上线︰2017/12/05 |
NKT-T180显微颗粒图像仪
首先感谢您对北京海鑫瑞科技有限公司的关注！
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窗体顶端
NKT-T180颗粒图像仪是北京海鑫瑞科技有限公司的新一代颗粒图像分析设备，NKT-T180采用最新的工业级显微图像采集系统，使样品观测更加清晰。分析软件系统能够对样品的“单体数据”、“形态参数”、“整体分布”等参数进行分析和计算，可以轻松获得样品的整体分布规律的曲线图和颗粒形态描述等丰富数据，是对各类颗粒样品进行观测和分析的专业仪器设备。配套的专业颗粒分析软件根据多年来用户的使用意见进行了更加人性化的升级和改进，由计算机自主分析出样品各种等效粒径、X、Y切线等“单体属性”、以及包括长径比、球型度在内的“形态参数”。再通过进一步计算得出此样品的整体分布情况（包含整体分布曲线等丰富数据），软件中还增加了多幅图像拼接计算的模式，成倍增加了参与分析的颗粒数量，从而有效的保证了数据的代表性。最后可将样品的数据以报告的形式输出（包含有图像范例、图表、数据列表等），非常便于测试人员对测试结果进行管理和汇报。
NKT-T180 显微颗粒图像分析仪技术参数及详细配置
技术参数：
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硬件参数 |
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显 微 系 统 |
物镜 |
4X、10X、40X、60X、100X（油）长距消色差（平场）物镜组 |
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目镜 |
1X、10X、16X 大视野摄像目镜 |
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载物台 |
手动三维机械式载物台，尺寸：185mm×140mm，移动范围：50mm×75mm，粗微同轴调焦，微动格值:2μm,带锁紧和限位装置 |
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光源 |
底部透射光源，6V 20W卤素灯,亮度可调。可选顶部金相落射式光源（带起偏振器） |
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总放大倍数 |
4倍——1600倍 |
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摄 像 系 统 |
最高分辨率 |
2048×1536 |
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像素尺寸 |
3.2μm×3.2μm |
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成像元件 |
1/1.8英寸progress scan CMOS |
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帧率 |
6fps@2048×1536 / 10fps@1600×1200 / 15fps@1280×1024 / 30fps@640×480 |
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最高清晰度 |
900线 |
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信噪比 |
小于42dB |
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敏感度 |
1.0V@550nm/lux/S |
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输出方式 |
USB2.0 |
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实际观测范围 |
0.5微米——3000微米 |
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软件参数 |
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软 件 功 能 |
静态采集 |
将样品形貌拍摄为高清晰BMP图片 |
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图片处理 |
使用多种画图工具对图片进行比较简单的处理 |
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图像拼接 |
将多幅图片进行无缝拼接,在颗粒测试中能够获得更多的颗粒数量以提高测试的代表性 |
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颗粒的自动处理工具集 |
自动消除颗粒粘连、自动消除杂点、自动消除边界不完整颗粒、自动填补颗粒的空心区域、自动平滑颗粒边缘等12项自动处理工具。 |
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比例尺标定 |
通过国家标准测微尺标定后，每次测试只须选择与物镜相对应的比例尺数值即可直接得到颗粒的实际大小数值。 |
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单个颗粒数据 |
可在图片上直接对单个颗粒进行截面积、体积、长径比等10多项参数的分析 |
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任务管理机制 |
严格的任务管理机制，使用户能够将所有测试数据井井有条的管理起来。 |
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报告输出 |
将测试结果输出为报告，并可以自定义报告样式。 |
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整体分布特征参数 |
D10、D50（中位径）、D90、D100等颗粒分布的特征参数 |
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报 告 参 数 |
整体频率分布累计分布 |
颗粒按数量、体积、面积等分布的频率分布与累计分布的数据表、曲线图、柱状图等。 |
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统计平均径 |
Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用的统计平均径 |
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形状参数 |
长径比、庞大率、球型度、表面率、比表面积、外接矩形参数等表征颗粒形状的10多项常用数据 |
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个数统计 |
直接得到所观测的颗粒数量 |
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样品缩略图 |
可以将样品缩略图显示到报告中 |
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表头输入 |
可以将样品名称、测试单位、分散介质等多项信息输入到报告表头中 |
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自定义LOGO |
用户可以自定义LOGO和报告名称，使输出的报告显示自己公司的信息 |
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产品优势
NKT-T180颗粒图像仪”作为专业的颗粒图像分析仪器，是专为颗粒或颗粒相关行业设计开发的，它的突出优势主要体现在以下方面：
1 专业性强：与其他厂家生产的各种类型图像分析仪器相比，北京海鑫瑞专业的颗粒测试研究经验与图像学理论完美结合，是“NKT-T180颗粒图像仪”专业性的保证。本产品不但可对样品的颗粒单体的进行科学描述，还可以将颗粒的分布情况使用数据、图表等方式进行直观表现。能够独立或辅助激光粒度仪等设备更好的进行颗粒测试工作。
