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相位差测量系统WPA-200-XL 1
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相位差测量系统WPA-200-XL

型号:WPA-200-XL
品牌:phl
原产地:日本
类别:电子、电力 / 仪器、仪表 / 其他仪器、仪表
标签︰双折射测量 , 内应力测量 , 相位差测量
单价: -
最少订量:1 件
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北京欧屹科技有限公司

免费会员北京市昌平区
最后上线︰2020/04/20

产品描述

WPA-200-XL

主要特点

  • 操作简单,测量速度可以快到3秒。 
  • 采用CCD Camera,视野范围内可一次测量,测量范围广。
  • 测量数据是二维分布图像,可以更直观的读取数据。
  • 具有多种分析功能和测量结果的比较。
  • 维护简单,不含旋转光学滤片的机构。


主要应用:

  • 光学零件(镜片、薄膜、导光板)
  • 透明成型品(车载透明零件、食用品容器)
  • 高分子材料(PET PVA COP ACRYL PC COC PMMA)
  • 透明基板(玻璃、石英、蓝宝石、单结晶钻石)

  

 技术参数:

项次

项目

具体参数

1

输出项目

相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa

 

2

测量波长

520nm543nm575nm

 

3

双折射测量范围

0-3500nm

 

4

测量最小分辨率

0.001nm

 

5

测量重复精度

<1nm(西格玛)

 

6

视野尺寸

218x290mm-360×480mm(标准)

 

7

选配镜头视野

无选配

 

8

选配功能

实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制,CD模式


测量案例:



 


产品图片

相位差测量系统WPA-200-XL 1
图 1

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传真︰
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手机︰
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