| 型号： | H、L、PCB |
|---|---|
| 品牌： | - |
| 原产地： | 韩国 |
| 类别： | 电子、电力 / 仪器、仪表 / 分析仪器 |
| 标签︰ | 金属镀层 , 测厚仪 , 全自动 |
| 单价： |
¥10000
/ 件
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| 最少订量： | 1 件 |
| 即时通讯: | 最后上线︰2023/07/20 |
XRF2000,2020,镀层测厚仪膜厚光学仪器，X 萤光射线膜厚分析仪是利用 XRF 原理来分析测量金属厚度及物质成分，可用于材料的涂层 / 镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。
铜上镀银测厚仪XRF-2020膜厚仪
检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...
仪器功能
全自动台面
自动雷射对焦
多点自动测量
XRF-2000镀层测厚仪
XRF2000镀层测厚仪,提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越,而且价钱*
同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果
甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台，可测量较大的产品。可测量各类金属层、合金层厚度等。
可测元素范围：钛（Ti） – 铀（U） 原子序 22 – 92
准直器：固定种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
自动种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析 统计功能
