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XRF2000,2020,镀层测厚仪膜厚光学仪器

型号:H、L、PCB
品牌:-
原产地:韩国
类别:电子、电力 / 仪器、仪表 / 分析仪器
标签︰金属镀层 , 测厚仪 , 全自动
单价: ¥10000 / 件
最少订量:1 件
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深圳市仟锂马科技有限公司

免费会员广东省深圳市
最后上线︰2023/07/20

产品描述

XRF2000,2020,镀层测厚仪膜厚光学仪器,X 萤光射线膜厚分析仪是利用 XRF 原理来分析测量金属厚度及物质成分,可用于材料的涂层 / 镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。

 

铜上镀银测厚仪XRF-2020膜厚仪

 

检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...

仪器功能

全自动台面
自动雷射对焦
多点自动测量

 

 

XRF-2000镀层测厚仪


XRF2000镀层测厚仪,提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱*
同比其他牌子相同配置的机器,XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果
甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整。超大/开放式的样品台,可测量较大的产品。可测量各类金属层、合金层厚度等。

型号详情图.png

可测元素范围:钛(Ti) – 铀(U)  原子序 22 – 92
准直器:固定种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型1×0.4mm
自动种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型0.05×0.4mm
综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析 统计功能


产品图片

XRF2000,2020,镀层测厚仪膜厚光学仪器 1
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XRF2000,2020,镀层测厚仪膜厚光学仪器 5
图 5

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电话︰
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