| 型号： | WIM 300 |
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| 品牌： | UTECHZONE由田 |
| 原产地： | 日本 |
| 类别： | 电子、电力 / 其它电力、电子 |
| 标签︰ | AOI检测 , 晶圆检测 , 自动 |
| 单价： |
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| 最少订量： | 1 件 |
| 最后上线︰2021/06/03 |
敝司代理UTECHZONE由田的晶圆检测设备。用于Wafer的缺陷检测。
产品特性：
1、高解析度CCD结合多角度灯光模组，有效检出缺陷
2、可检 Bare Wafer 、Pattern Wafer 、 Glass Wafer 、 Framed wafer
3、用于RDL宽度/高度、Bump宽度/高度、UBM深度…等检测项目
