型号: | X-rite 369 |
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品牌: | X-rite |
原产地: | 美国 |
类别: | 电子、电力 / 绝缘材料 |
标签︰ | - |
单价: |
¥36000
/ 件
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最少订量: | 1 件 |
X-rite 369是一台性能卓越的透射式光密度仪,特别适用于测量重氮片。它在印刷电路 板(PCB)领域的质量控制测量中有广泛应用。 校准后的X-rite 369将是你对重氮片进行 统计质量控制的最佳选择。它可以为供应商和客户节约材料,并帮您发现和解决生产中的问题。
技术规格:
1、测量直径:1mm,2mm及3mm(0.5mm附加)
2、测量范围:0~6.0D 0~100%(网点);
3、准确精度:
正色:2mm及3mm测量直径,精准度为±0.02D(0~5.0D)
±1%(5.0~5.5D)
±2%(5.5~6.0D)
正色:1mm测量直径,精准度为±0.02D(0~4.5D)
±1%(4.5~5.0D)
紫外线:3mm测量直径,精准度为±0.02D(0~3.5D)
±1%(3.5~4.0D)
4、重覆精度:
正色:2mm及3mm测量直径,重覆精度为±0.01D(0~5.0D)
±2%(5.0~5.5D)
±3%(5.5~6.0D)
正色:1mm测量直径,精准度为±0.01D(0~4.5D)
±1%(4.5~5.0D)
紫外线:3mm测量直径,精准度为±0.01D(0~3.5D)
±1%(3.5~4.0D)