| 型号： | TO-4、6、8、10、12 |
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| 品牌： | - |
| 原产地： | 中国 |
| 类别： | 电子、电力 / 电子元器件 / 端子、连接器 |
| 标签︰ | 接插件 , 老化插座 , 测试插座 |
| 单价： |
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| 最少订量： | - |
| 最后上线︰2018/07/08 |
TO封装集成电路老化测试插座
该插座用于金属壳封装集成电路的老化、测试、筛选作连结之用，连结金属管材料采用磷青铜表面镀金、镀银、镀镍等工艺，该插座耐高温、绝缘性能好，经久耐用，深受用户的欢迎。
产品型号及规格；
TO-4、6、8、10、12
主要技术指标；
环境温度；-55℃—+155℃ 接触电阻；≤0.01欧 工作电压；DC500V 单脚插入力；≤0.2Kg
磷青铜管镀银层厚度；1um镍2um银 高低温状态下插拔寿命；2000-3000次.
