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基本信息

品牌：	3DFAMILY	型号：	经济型E80/100/130	操作方式：	自动
功能：	检测、观察、分析
其它型号：	豪华型L80/100/130

    View X为X光机系列中的一组或称为手动型探伤仪，它包括一个基于Windows系统平台的工作台（View X -1000），并配有图像多样采集功能，能够做到图像同步采集与分析。View X光机完全体现了Scienscope设计中的集使用简便、图像清晰、价格合理的完美理念。

1、最高可达130千伏，5微米聚焦的X光管能产生125倍的几何放大率，再加上电脑放大可以达到1000倍的放大率。
2、观察范围可从1.5毫米至50毫米。
3、采用激光笔辅助样品定位。
4、X光管的Z轴可动控制（FOV和放大率控制）。
5、X光管探测器的Z轴可动控制（FOV和放大率控制）。
6、载物台可作±60°倾斜。
 

　

具体型号	经济型E80/100/130
光管类型	封闭管 / Sealed tube
光管电压	80kV、100KV、130KV
光管电流	0.15mA
光管聚焦尺寸	4.5-7um
冷却方式	风冷 / air cooling
几何放大倍率	125X
载物台大小（mm）	400*400*270
载物台旋转角度	±60°
增强屏视场	4/2 inch
增强屏解析度	75 lp/cm
尺寸（mm）	1450*1400*1750mm
重量	约770 kg
电源	AC110-230VAC, 50/60Hz
计算机	Windows®XP 17”CRT /LCD    Intel Pentium IV
工作环境温度	0-40℃
辐射安全标准	美国FDA安全辐射标准
保修期	一年保修

View X高解析度X光无损探伤仪主要使用于BGA、CSP、flip chip、半导内部以及多层电路板的质量检测，并能快捷清晰地检测电路板的焊接情况，特别适用生产过程的质量检测和返修后的质量检测。