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菲希尔荧光测厚仪 1
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菲希尔荧光测厚仪

型号:-
品牌:X-RAY XDL® 210/
原产地:-
类别:电子、电力 / 仪器、仪表 / 实验仪器装置
标签︰膜厚测试仪
单价: -
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昆山博恩思达仪器设备有限公司

免费会员江苏省苏州市
即时通讯: 上线︰2011/04/28

产品描述

 详细说明:

产品应用:配备手动或可编程位置的X-Ray萤光光谱镀层厚度测量仪,适合于装饰性小五金镀层、大量小零件及电路板中的非破坏厚度测量。

产品介绍:

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 系63900;是十分简63968;操作的桌面式测63870;仪器,因应63847;同的测63870;需要,有63847;同的型号可供选择,分别是在于63847;同的操控的X-Y测63870;桌及Z轴﹝测63870;头的上下移动﹞是固定或是可调节的。
XDL 210: 固定的X/Y桌及固定 Z-轴
XDL 220: 固定的X/Y桌及电动的Z-轴
XDL 230: 手动操控的X/Y 桌及电动的Z-轴
XDL 240: 电动的X/Y 桌可以在测63870;门打开时变速移动X/Y 桌出63789;给操作员放置样品及关闭测63870;门时移动X/Y 桌变速返回到测63870;位置。
高解像彩色摄影机配合强大的放大倍63849;功能使样品的对位十分容63968;及在测63870;中也可以监视测63870;的位置。如型号配备63930;可编测63870;位置的仪器63745;有63817;射对位装置63789;63745;快速及准确对准样品的位置测63870;。
开槽式的测63870;室设计,这可使大块及平坦的样品,比测63870;室还大的,63925;如:电63799;板,也可以测63870;。
在整体操作上,在简63968;操作及强大功能的电脑WinFTM®软件下,所有的测63870;63849;据的统计可以十分清楚地表达出63789;。
XDL系63900;的光谱的仪器,符合德国的出口规定 8222;Deutsche Röntgenverordnung-RöV“

通常应用的程式包括:
1、 测63870;大63870;的电镀五63754;件。
2、 检查薄膜层,63925;如:装饰性铬的镀层。
3、 在电子及半导体64008;业中分析其功能性的镀层。
4、 自动测63870;,63925;如:用于电63799;板64008;业。
5、 电镀槽中的药水成份分析


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菲希尔荧光测厚仪 1
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