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X射线测厚仪镀层测厚仪 1
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X射线测厚仪镀层测厚仪

型号:XRF-2000
品牌:先锋Micro Pioneer
原产地:韩国
类别:电子、电力 / 仪器、仪表 / 电子测量仪器
标签︰镀层测厚仪 , 镀层膜厚仪 , 测金机
单价: ¥100000 / 台
最少订量:1 台
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深圳市超胜科技有限公司

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产品描述

Micro Pioneer XRF-2000 系列X射线测厚仪镀层测厚仪 膜厚仪 测金机

韩国Micro Pioneer XRF-2000 X射线镀层测厚仪中国区一级专业 代理商,集销售、保养、校正(调试)及维修等专业服务一体化;长期提供XRF-2000测厚仪原装进口零配件(X射线光管、正比例探测器及放大器等)。。

 

产品简介

XRF-2000 X射线测厚仪镀层测厚仪测金机膜厚仪
  X-射线镀层测厚仪的特征:
  1.可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。
  2.可通过CCD摄像机来观察及选择微小面积以进行镀层厚度的测量,避免直接接触或破坏被测物。
  3.备有250个以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品。
  
  一、韩国Micro Pioneer XRF-2000 系列X射线测厚仪(全新原装进口)
  XRF2000能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱超值,同比其他牌子相同配置的机器,XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整。超大/开放式的样品台,可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的 。可测量各类金属层、合金层厚度等。

膜厚测试符合国际标准:ASTMB568 ;   ISO3497;  DIN50987  。

校正标准片:符合NIST规范,附有美国国际标准之证明文件。
  可测元素范围:钛(Ti)–铀(U)原子序 22–92.
  准直器:固定种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
  自动种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
  电脑系统:DELL品牌电脑,17寸液晶显示器,惠普彩色打印机
  综合性能:镀层分析定性分析定量分析镀液分析统计功能


付款方式︰TT

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X射线测厚仪镀层测厚仪 1
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