| 型号： | DDR3*8位 |
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| 品牌： | SIREDA |
| 原产地： | 中国 |
| 类别： | 电子、电力 / 电子元器件 / 集成电路 |
| 标签︰ | DDR , memory , 内存颗粒 |
| 单价： |
¥3000
/ 件
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| 最少订量： | 2 件 |
| 即时通讯: |  | 最后上线︰2019/03/14 |
| 付款方式︰ | TT |
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| 产品规格︰ | 测试所有内存颗粒:DDR3,8位,所有厂商 三星,镁光,南亚,尔必达,海力士,不同尺寸也可测试(换限位框) |
| 产品优点︰ | DDR3*8位单/双晶圆内存颗粒测试夹具(一托八) 专利结构，零磨损 金线导电，不烧焊盘和IC 过压力保护，导电胶寿命更长 压力自适应，兼容不同厚度的颗粒 限位框可更换，兼容不同大小的内存颗粒 参数: 产品型号: DDR3-GF6U63 外壳材质: 铝合金, 电木 导电体: 金线导电胶( GCR ) 绝缘电阻 : 1000 mΩ? Min,At DC 500V 耐电压: 700 AC / 1Minute 接触阻抗: <30 mΩ 机械寿命: 100，000 Times 工作温度: From -40℃ to + 155℃ 特点: 手动翻盖滚轴式结构，省力又方便，零磨损，专利号：ZL 2012 2 0056976.7压块浮动结构，延长导电胶寿命，适用不同厚度的IC 通用性高，只需换限位框，即可测试尺寸不同的颗粒（宽度≤13MM 长度≤16MM）金手指镀金厚度是普通PCB的10倍（30 μ m），保证测试治具有更好的导通和耐磨性金线导电胶减短IC与PCB之间数据传输距离，测试更稳定，最高频率可达2000MHZ，且更换方便，成本更低全新设计更薄，不需转接槽可直接插到测试板上进行测试，频率衰减更低，减少误测 与同类治具比较: 项次 项目名称 斯纳达 公司 “TW” 备注 1 治具价格 低 高 2 治具磨损 低 高 专利结构，除PCBA与导电胶2个耗材外，其他一律保修1年 3 导电胶过压保护 有 无 浮动压块，压力自适应，导电胶寿命延长1倍以上 4 不同厚度芯片的兼容性 好 不好 浮动压块，压力自适应，兼容不同厚度的颗粒测试 5 售后服务 好 一般 本地支持，服务响应速度快 |
| 主要市场︰ | 大陆 |
| 最小订量︰ | 2 |
| 交货日期︰ | 3天内 |
