产品描述
X-RAY膜厚仪主要基于WinFTM? V6L核心控制软件的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。X-RAY膜厚仪采用全新数学计算方法,采用最新的FP（Fundamental Parameter）、DCM（DistencoControlledMeasurement）及强大的电脑功能来进行镀层厚度的计算，在加强的软件功能之下，简化了测量比较复杂镀层的程序，甚至可以在不需要标准片之下，一样精准测量。X-RAY膜厚仪能够有效并精确的测量合金属成分，只需短短数秒钟，所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量：单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
金霖电子 吴小姐 手机：13603036715 TEL：29371651 FAX：29371653 QQ：1351791466 邮箱：www.kinglin5158@163.com 地址：宝安中心区宏发中心大厦
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