产品描述
无损膜厚仪采用最新数学FP法，采用激光自动对焦，并配备有Z轴防冲撞传感器，可防止在对焦时造成一起的损坏。无损膜厚仪可适用于各种样品，从较厚的样品（机械零部件）之大型线路板（PCB）及电子元器件等 ，无损膜厚仪测试方向由下向上照射的设计是只需要对准量位置，而不需要调校焦距便可以进行非破坏式测量，通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触或破坏被测物。 使用安全简便，坚固耐用节省维护费用。而且，它符合标准DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨硅-PIN-接收器，配合快速信号处理系统能达到极高的精确度和非常低的检测限。期待您的来电，金霖电子 吴小姐 手机：13603036715 TEL：29371651 FAX：29371653 QQ：1351791466 邮箱：
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