产品描述
此系列机型是简约紧凑型设计，操作简单维护方便，可以适合快速的抽检和一般性的BGA分析检测。
手动导航并可角度旋转；
体积精巧、不占空间、便于移动;
双制式增强器、高分辨率、高放大率；
满足快速检测需求，高性价比的最佳机型。
BGA, CSP, 倒装芯片, QFP 和半导体 适用于 SMT 工艺发展，生产监督 支持返修技术
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型号
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AX7100L
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整机状态
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尺寸：850mm(W)×1000mm(D)×1590mm(H)
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重量：580KG
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供电：220VC/50Hz
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湿度：30-70RH
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温度 ：0⁰C-40⁰C
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几何放大倍率：150×
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功率：0.3KW
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工作模式
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离线
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检测维度
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2D
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光管
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光管类型：封闭管
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最大管电压：100KV (TF)
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最大管电流：0.15mA
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聚焦尺寸：5μm
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X射线发射角度：60度
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使用寿命：5000小时
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光管运动形程：80mm（手动）
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影响探测器
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标准配置：4″/2″增强器
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145万像数， 帧率15FPS
像元尺寸：4.65µm*4.65µm
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影像灰阶度：12bit
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最大视场：100mmX100mm/50mmX50mm(4″/2″)
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运动形程：250mm(手动)
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载物台(带旋转+70⁰)
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尺寸：420mm×360mm
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检测区域：400mm×250mm
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夹具：无
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最大载重量：5KG
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操作显示
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显示器：SAMSUNG 19寸液晶
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操作系统：Windows XP系统
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软件版本：AX-DXI系统3.0版
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控制方式
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手动控制
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安全性
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﹤1μSv/h / 0.5mr/h
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导航模块
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无
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产品图片
图 1
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