◆产品通用性高，只需换颗粒限位框，即可测试尺寸不同的颗粒（宽度≤13MM 长度≤14MM）；
◆产品全新设计，相比以前更薄，预留插槽卡位，不需转接槽可直接插到测试板上进行测试，
把频率衰减降到最低，减少误测；
◆有球无球均可测试，颗粒压板通过使用高精度自适应弹簧保证每个 IC 平衡下压；
◆采用手动翻盖滚轴式结构，操作省力方便，相比同类产品减少磨损，达到更高的使用寿命；
◆采用台湾著名厂家生产的内存颗粒测试专用 PCB，金手指、IC 焊盘镀金层是普通 PCB 的 5
倍，保证测试治具有更好的导通和耐磨性，相比同类产品具有更好的超频性能及使用寿
命；
◆采用带定位孔内存颗粒测试专用 PCB，探针板与 PCB 孔定位，保证探针与 PCB 精确定位，
如有损坏用户可自行更换维修，简单方便，减少返厂维修，为客户争取宝贵时间；
◆采用超短进口双头探针设计，相比同类测试产品使 IC 与 PCB 之间数据传输距离更短，从
而使测试更稳定，频率更高，DDR3 系列频率可达 2000MHZ；
◆探针板采用定位销加螺丝结构，在使用过程中如有探针损坏，客户可自行更换维修，方便
维护，为生产争取宝贵时间；
◆高精度合金 IC 定位框，保证 IC 定位精确，取放 IC 方便，从而提高测试效率；
◆测试寿命长，有效测试 10 万次以上；（视使用环境及相关操作而定）
◆内存颗粒测试治具测试规格：DDR2X8 DDR3X8 一次性可测试 8 颗内存颗粒；
◆可以定制单颗内存 IC 与服务器主控 IC 的测试治具
◆可以免费提供相关的技术支持。
产品服务：
※该产品用户可自行维修，本公司按成本价提供相关配件；
※保修期内，免费维修（人为损坏、烧坏除外），如果需换件，只收材料成本费。
